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Die Voraussetzungen und Umfang der Haftung des Patentlizenznehmers nach deutschem und US-amerikanischem Recht

von Katharina Bernau (Autor:in)
©1999 Dissertation XLII, 480 Seiten

Zusammenfassung

Die Arbeit hat die zivilrechtliche Problematik des Patentlizenzvertrages zum Gegenstand. Ziel ist die Lösung speziell der haftungsrechtlichen Fragen. Die haftungsrechtliche Problematik gründet sich darauf, daß es für den Lizenzvertrag sowohl nach deutschem als auch nach US-amerikanischem Recht keine spezifischen Gesetzesregeln gibt. Es werden nicht nur theoretische Lösungsansätze geliefert, sondern dem Bedürfnis der Praxis nach Rechtsklarheit Rechnung getragen, das durch Interviews mit Lizenzspezialisten in einigen der größten deutschen und US-amerikanischen Unternehmen und mit Rechtsanwälten auf diesem Gebiet zum Ausdruck gekommen ist. Nach Aufzeigen der Problematiken und deren Lösungen zunächst im deutschen Lizenzvertragsrecht, wird die Rechtslage vergleichend im US-amerikanischen Recht dargestellt. Am Ende der Arbeit werden kapitelweise rechtsvergleichend die Ergebnisse zusammengefaßt.

Details

Seiten
XLII, 480
Jahr
1999
ISBN (Paperback)
9783631317198
Sprache
Deutsch
Erschienen
Frankfurt/M., Berlin, Bern, New York, Paris, Wien, 1999. XLII, 480 S.

Biographische Angaben

Katharina Bernau (Autor:in)

Die Autorin: Katharina Bernau, geboren 1968 in Hannover. Studium der Rechtswissenschaften in Bayreuth, Lausanne und München. Promotion am Max-Planck-Institut für ausländisches und internationales Patent-, Urheber- und Wettbewerbsrecht in München 1994-1996. Studium des Master of Laws (LL.M) an der Columbia University in New York 1996/1997. Rechtsanwaltskanzlei Weil, Gotshal & Manges, New York und Silicon Valley Office 1996-1998.

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Titel: Die Voraussetzungen und Umfang der Haftung des Patentlizenznehmers nach deutschem und US-amerikanischem Recht