Show Less

Ideen und Realitäten von Universitäten

Edited By Marc Fabian Buck and Marcel Kabaum

Dieser Band versammelt aktuelle Bestandsaufnahmen, historische Befunde und Kontroversen zu Universitäten und anderen higher education institutions (HEIs). Dabei wird nicht die Differenz zwischen einer Idee und deren gern konträr dargestellter Realität thematisiert – oder gar bedauert. Ideen und Realitäten steht vielmehr für die zeitliche und räumliche Diversität eines systematisch vergleichbaren Konzeptes.
Die Beiträge betrachten die jeweils spezifische Ausformung aus nationaler, kritisch-funktionaler bzw. ideengeschichtlicher Perspektive sowie ihre Funktionen, ihre (narrative) Idee oder die Kritik an Hochschulen.

Prices

Show Summary Details
Restricted access

Cover

Extract

Ideen und Realitäten von Universitäten Marc Fabian Buck und Marcel Kabaum (Hrsg.) Ideen und Realitäten von Universitäten Bibliografische Information der Deutschen Nationalbibliothek Die Deutsche Nationalbibliothek verzeichnet diese Publikation in der Deutschen Nationalbibliografie; detaillierte bibliografische Daten sind im Internet über http://dnb.d-nb.de abrufbar. ISBN 978-3-631-62381-7 (Print) E-ISBN 978-3-653-03635-0 (E-Book) DOI 10.3726/978-3-653-03635-0 © Peter Lang GmbH Internationaler Verlag der Wissenschaften Frankfurt am Main 2013 Alle Rechte vorbehalten. Peter Lang Edition ist ein Imprint der Peter Lang GmbH. Peter Lang – Frankfurt am Main · Bern · Bruxelles · New York · Oxford · Warszawa · Wien Das Werk einschließlich aller seiner Teile ist urheberrechtlich geschützt. Jede Verwertung außerhalb der engen Grenzen des Urheberrechtsgesetzes ist ohne Zustimmung des Verlages unzulässig und strafbar. Das gilt insbesondere für Vervielfältigungen, Übersetzungen, Mikroverfilmungen und die Einspeicherung und Verarbeitung in elektronischen Systemen. www.peterlang.com

You are not authenticated to view the full text of this chapter or article.

This site requires a subscription or purchase to access the full text of books or journals.

Do you have any questions? Contact us.

Or login to access all content.